LEEM-16 Apparat Kostanti Dielettriċi
Kontenut sperimentali prinċipali
1. kejl tal-permissività tal-vakwu e0 u l-permissività relattiva er;
2. tagħlim LC reżonanza metodu biex titkejjel kapaċità żgħira;
3. tagħlim l-użu ta ' l-oxxilloskopju diġitali.
Parametri tekniċi ewlenin
| Deskrizzjoni | Speċifikazzjonijiet |
| Ġeneratur tas-sinjali DDS | Display LCD ta '4.3 pulzier, frekwenza sine wave u mewġ kwadru 1μhz ~ 10mhz, amplitudni tas-sinjal 0 ~ 10vp-p, offset u fażi tas-sinjal tal-forma tal-mewġ jistgħu jiġu ssettjati, bl-użu ta' ċwievet diġitali u swiċċ tal-kodifikazzjoni għall-aġġustament. |
| Resistor standard | R1 = 1kω, preċiżjoni 0.5%.r2 = 30kω, preċiżjoni 0.1% |
| Induttur standard | L=10.5mh, preċiżjoni 0.3% |
| Speċifikazzjoni tal-pjanċa tat-test | 297 × 300 mm, apertura: Φ4mm, spazjar span: 19mm, 50mm u 100mm, eċċ., reżistenza tal-kuntatt inqas minn 5mω, l0a kurrenti massimu, capacitance distribwita 1.5pf. |
| Folja dielettrika li għandha tiġi ttestjata | Ptfe u ħġieġ organiku, φ40 * 2mm |
| Aċċessorji tat-test | Kejbil ta 'plagg tal-banana ta' 4mm, bnc għal kejbil ta 'plagg tal-banana ta' 4mm, toothpick, eċċ. |
| Vernier kalibru | 0-150mm/0.02mm |
| Mikrometru spirali | 0-25mm/0.01mm |
| Oxxilloskopju diġitali | Ippreparat waħdu |
Ikteb il-messaġġ tiegħek hawn u ibgħatilna
